2012年发布仪器新品，X射线荧光(以下简称XRF)光谱法基本原理是当物质中的原子受到适当的高能辐射的激发后，放射出该原子所具有的特征X射线，根据该元素的特征X射线进行定性和定量分析的一种方法。XRF具有分析速度快、样品前处理简单、可分析元素范围广、谱线简单，光谱干扰少等优点;其不足之处是只能进行元素分析，不能作价态和化合物分析，分析结果会受到基体的干扰。
XRF主要由光源、色散元件、探测器、数据处理等部分组成。目前，XRF的主要类型有波长色散型XRF和能量色散型XRF。
XRF激发样品的光源主要包括具有各种功率的X射线管、放射性核素源、质子和同步辐射光源。波长色散X射线荧光光谱仪所用的激发源是不同功率的X射线管，功率可达4~4.5kW，类型有侧窗、端窗、透射靶和复合靶。能量色散X射线荧光光谱仪用的激发源有小功率的X射线管，功率从4~1600W，靶型有侧窗和端窗。靶材主要有Rh、Cr、W、Au、Mo、Cu、Ag等，并广泛使用二次靶。现场和便携式谱仪则主要用放射性核素源。
依分辨率从低至高XRF常用的探测器有NaI晶体闪烁计数器，充气(He, Ne, Ar, Kr, Xe等)正比计数管器、HgI2晶体探测器、半导体致冷Si PIN 探测器、高纯硅晶体探测器、高纯锗晶体探测器、电致冷或液氮致冷Si(Li)锂漂移硅晶体探测器、Ge(Li)锂漂移锗探测器等。目前常用的是电致冷或液氮致冷Si(Li)锂漂移硅晶体探测器、Si PIN 探测器、高纯硅晶体探测器。探测器的性能主要体现在对荧光探测的检出限、分辨率、探测能量范围的大小等方面。
2012年上半年,有3家厂商推出了X射线荧光光谱仪新产品。
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