HIOKI3445 红外测温仪深圳市拓克科技有限公司-日置测试仪器网

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产品名称：HIOKI3445 红外测温仪
产品型号：HIOKI3445
产品展商：日本日置HIOKI
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简单介绍

HIOKI3445 红外测温仪对应温度控制、管理的放射温度计 0.1分辨率，正确、非接触、快速测量/1.6s(95%)广范围温度可使用于恶劣环境的防湿/防尘构造（IP54）用3909接口卡，实现高效率PC计测用专用软件（包含于3909），处理/管理数据因用途可选择的3型号温度的连续收集

产品描述

HIOKI3445 红外测温仪
对应温度控制、管理的放射温度计
0.1分辨率，正确、非接触、快速测量/1.6s(95%)广范围温度
可使用于恶劣环境的防湿/防尘构造（IP54）
用3909接口卡，实现高效率PC计测
用专用软件（包含于3909），处理/管理数据
因用途可选择的3型号
温度的连续收集
基本参数

测量量程 -50～500°C（分辨率0.1°C）

测量精度 ±1%rdg.(200.1～500°C), ±2°C(0～200°C)
±10%rdg.±2°C(-50～-0.1°C)

响应时间约0.7s（95%响应/1°C分辨率时）

采样速率约8s/次

显示 4行LCD

测量视野直径 7cm距离处为Ф2.5mm

瞄准 2束激光标记（2级）

测量波长 8～16μm

放射率补偿 ε=0.10～1.00（0.01步进）

功能 *大、*小显示，模拟输出（需3909），RS-232C输出（需3909）

使用温湿度范围 0～40°C，35～85%rh(不凝结)

电源供应 6F22×1(连续使用约20小时)

体积及重量 47宽×200高×48厚mm,280g

附件携带盒（1）,背带（1）

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产品目录

产品资料

HIOKI3445 红外测温仪

测量量程	-50～500°C（分辨率0.1°C）
测量精度	±1%rdg.(200.1～500°C), ±2°C(0～200°C) ±10%rdg.±2°C(-50～-0.1°C)
响应时间	约0.7s（95%响应/1°C分辨率时）
采样速率	约8s/次
显示	4行LCD
测量视野直径	7cm距离处为Ф2.5mm
瞄准	2束激光标记（2级）
测量波长	8～16μm
放射率补偿	ε=0.10～1.00（0.01步进）
功能	大、小显示，模拟输出（需3909），RS-232C输出（需3909）
使用温湿度范围	0～40°C，35～85%rh(不凝结)
电源供应	6F22×1(连续使用约20小时)
体积及重量	47宽×200高×48厚mm,280g
附件	携带盒（1）,背带（1）