智能化介质损耗测试仪日本*大分析仪器展览会近日召开(咨询电话021-56479693)
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2010年9月1日9时40分，与美国Pittcon、德国Analytica及中国BCEIA齐名的日本*大的分析仪器展览会“JAIMAEXPO 2010 / SIS2010”于日本千叶县幕张会展中心隆重开幕，展览会为期三天。本届展会由日本分析仪器工业会(JAIMA)和日本科学仪器团体联合会(JSIA)**次联合主办。
据主办方介绍，本次展会共有1361个展位，与去年相比增加了40%，来自世界各国的450多家科学仪器公司和近三万余行业人士参加，并且来自12个国家的40个国外展团也参加了此次展会。迄今为止，本届展会是JAIMA展会史上规模*大的一次。
JAIMA展会始于1962年，每年举办一次。2010年是第48届，并改名为“JAIMA EXPO 2010 / SIS2010”。本次JAIMA EXPO 2010的主题是“Securing a Healthy Future withAnalytical Technology”；SIS 2010的主题是“Science and Technology：Leadingthe Way to Tomorrow”。
国际知名仪器厂商ThermoFisher、Agilent、PerkinElmer、HORIBA、岛津、JEOL、布鲁克、SII等均在此次展会上露面，其中大部分以日本本土仪器厂商为主。展示的仪器设备包括：实验室科学仪器、过程/现场应用仪器、环境监测检测仪器、**监控仪器、物理和工业测量仪器以及仪器设备部件、消耗品等。
展会同期还举办相关的学术会议，9月2日还将举办产学研先进技术与仪器设备成果发布会。302场新技术研讨会发布的论文展示了2010年新技术动态，按照仪器种类划分，其中光谱仪器相关论文数显著增长，由去年的33篇上升为40篇；X射线仪器、表面分析仪器的相关论文数分别比去年增加了6篇、4篇。按照应用领域划分，环境监测类发布了54篇，比去年增加了18%；材料检测类也由去年的76篇增加为今年的95篇。
为展示、宣传中国科学仪器，中国分析测试协会也统一组团参加，仪器信息网作为此次大会**一家中国专业媒体参加了此次盛会。