首页 >>> 公司新闻 >

公司新闻

试验变压器增加稳压电路
试验变压器增加稳压电路
才可完成，高密度设计的布局必须留有空地并相当地展开。这便导致连线长，每个线上开关多试验变压器，这些因素产生**的时序结果并增加了功耗。此外，块中的逻辑趋向于分类集结在一起，总线跨越不同块时需走过较长的距离试验变压器整机的功耗。一个设计中采用时分复用宽总线技术，可减少总线的数量，有利于时序和功耗。再者，DSP设计中，数据是相关的这表明大多数数据位并未改变状态。携带相关数据的总线应尽量复用在一起，进一步减少MUXDEMUX逻辑中的开关活动（图5
设计中不会用到全部的单片机内部电路，a.使内部电路可选择性地工作一般���而那些没有用到电路将产生额外的功耗。需要进行微功耗设计的应用中，可以通过对内部特殊功能寄存器编程，选择使用不同的功能模块试验变压器，对于不使用的功能模块使其停止工作，减少系统无效功耗。
单片机的工作电压越高，b.产品的低电压设计可以降低产品功耗一般。内部晶体管在放大区的工作时间也越长，单片机的功耗也就越大。由于采用先进的芯片生产工艺，使单片机的电压范围一般很宽，如可以在1.8V5V电源电压范围内正常工作。为了降低系统功耗，可尽量采用低电压设计。
可以进一步拓宽单片机的应用领域，单片机供电电压范围的放宽。尤其是便携式或掌上型设备中，可以放心地使用电池作为电源，而不必关心放电过程电压曲线是否平衡、低电压下是否会影响单片机正常工作，更不必因电池供电而专门增加稳压电路，从而可减少大量的功率消耗。为降低功耗，通常单片机都提供多种工作模式，当处于空闲时进入休眠模式，当有一个事件提出中断请求时，可以快速地返回到正常的运行模式，这样既可以保证系统节电，又不影响正常的工作。
如51系列的单片机有空闲模式和掉电模式。不同的工作模式中，不同的单片机会有不同的工作模式。单片机内核中某些功能模块将设置为休眠状态。如MSP430系列单片机有6种不同的工作模式，除了一种是正常的运行模式(activmode以外，其余五种均是低功耗模式，这些模式下可以分别将CPU内部时钟、内部总线、直至内部晶振全部关闭，使单片机的耗电降为*小。只有发生中断请求或复位时试验变压器，系统被唤醒进入正常运行模式。全速工作模式是Blackfin处理器的*高性能模式。这种工作状态下，处理器和所有允许的外围设备都以全速运行。PLL允许的所以CCLK以CLKIN倍频运行。
有效工作模式
PLL允许，有效工作模式下。但是被旁路，所以CCLK直接来自于CLKIN因为CLKIN源自外部振荡器输入，不会超过33MHz所以这种模式可以显著节省功耗。此时系统时钟（SCLK频率也会降低，因为它永远不会超过CCLK这种模式下PLL被绕开，所以改变PLL倍频系数是很**的但是这种改变要直到DSP回到全速工作模式下才能奏效。PLL不仅可以被旁路—也可以被禁止，以便进一步节省功耗。
休眠模式
所以显著降低了功耗。但是SCLK仍然是允许的因此二级存储器L2和外围设备中仍然可以进行数据转移。为了从休眠模式中退出，休眠模式由于禁止CCLK使得DSP内核空闲。Blackfin提供一种DSP内核唤醒功能试验变压器功能规划，其工作独立于内核的事件控制器。会影响器件测试的动态功耗有两种：峰值功率和平均功率。峰值功率，有时也称为“瞬时功率”很短时间内(例如系统时钟上升沿/下降沿后紧跟着的时钟周期的一小部分)消耗的功率总和。峰值功率反映了器件中节点开关的活动水平，因此同时从一个逻辑状态切换到另一个状态的节点数量越多试验变压器，峰值功率就越大。
从而导致测试仪上的向量失配。开关电流通常不至于如此恶劣，扫描测试能使器件的峰值功率增至任务模式下向量消耗水平的20倍。显著的开关电流有可能导致轨信号塌陷(railcollaps噪音的产生：沿着扫描链(scanchain移位至电路的比特丢失。但仍会引起轨信号下跌，因为IR-drop沿电源轨增加的同时也导入了电路延迟。某些情况下，扫描数据可能无法到达扫描链中的下**电路，从而导致测试程序失效。移位模式下的轨信号下跌一般可通过充分地降低扫描移位频率来解决，因为这样能让扫描信号在角落条件下有足够的时间满足移位循环定时。然而，降低扫描移位频率会延长测试仪的测试时间，因此增加了批量生产时的测试成本。低功率填充向量可以检测额外故障，但比标准ATPG向量要少，因为每个低功率填充激励中的伪随机位都被移除了因此，低功率填充ATPG一般要比标准ATPG产生更多的向量才能获得相同的故障覆盖率。尽管如此，本节所描述的技术在压缩方面非常灵活，如图4所示：当应用更多的压缩时，测试周期数只比基本案例(所有扫描启动没有被激活，没有低功率填充)稍多一些。该图也显示了捕获模式期间由完整向量集与压缩率之间关系所得到峰值开关动作。而峰值开关动作的减少几乎与压缩率无关。由于ActelFPGA 采用抗熔断技术，本质上是非易失性的通电时能即时工作，器件在通电序列中无需进行重构试验变压器，信息是长久性编程的信息的存储与保持不消耗电流，从而减小静态电流，降低功耗。器件不必携带通电系统引导程序的PROM因而是一种高性能的单片解决方案。
三、降低功耗的设计技巧
VDD与地之间短路连接消耗内部功率。漏电功耗是CMOS工艺普遍存在寄生效应引起的而开关功耗则是自负载电容,基于CMOS设计主要消耗三类切率：内部的短路）漏电的静态的以及开关的电容）当门电路瞬变时。放电造成的开关功耗与短路功耗合在一起称为动态功耗。下面介绍降低静态功耗和动态功耗的设计技巧。
降低静态功耗
然而对电池供电的手持设备就显得十分重要试验变压器，虽然静态电流与动态电流相比可以忽略不计。设备通电而不工作时更是如此。静态电流的因素众多，包括处于没有完全关断或接通的状态下的I/O以及内部晶体管的工作电流、内部连线的电阻、输入与三态电驱动器上的拉或下拉电阻。易失性技术中，保持编程信息也需一定的静态功率。抗熔断是一种非易失性技术，因此信息存储不消耗静态电流。这是一种在块输出不用时防止输入信号使块开关工作的技巧。例如考虑一个乘法器，输出仅在某些特定条件下才使用。此场合可增添一个锁存器，这样每当输出不用时试验变压器电力调度，乘法器的输入将阻止不必要的开关动作带入乘法器（图4一个锁存器只需一个组合单元，并不占用过多芯片面积。
上一篇：试验变压器通道运算
下一篇：试验变压器的应用中的数据