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电力电缆故障测试仪

电力电缆故障测试仪

G.652光纤特性

G.652光纤是现在电缆故障测试仪原理网络上应用比较多的一种光纤,ITU-T对于G.652分为四类光纤。

G.652四种光纤的分类主要基于PMD的要求和在1383nm处的衰耗要求。

G.652.A光纤用于支持G.957和G.691电缆故障测试仪广泛的应用*高速率为STM-16或10Gbit/s*大传输距离为40km(Ethernet)和STM-256用于G.693的应用。

G.652.B光纤用于支持速率高达STM-64的蓄电池更高比特率的应用,蓄电池活化仪如G.691和G.692中的某些应用,G.693和G.959.1中的某些STM-256应用,根据应用不同,色度蓄电池活化色散的容限需要考虑。

G.652.C与G.652.A类似,但是允许的波长范围扩展到从1360nm到1530nm。 

G.652.D与G.652.B类似,但是允许的波长范围扩展到从1360nm到1530nm。

在2003年1月修改G.652光纤标准时,电缆故障测试仪希望**提高G.652光纤的特性,至少都要支持10Gbit/s的长途应用,对G.652B要求支持40Gbit/s的长途应用,所以开始提出G.652B的PMDQ应小于0.10ps/km。后来基于考虑40Gbit/s的应用主要从城域网开始,10Gbit/s系统的传送在3000km左右已经可以覆盖大部分应用情况,所以放宽到0.20ps/km。

经过调整过的各类G.652光纤的特性为:

  毛利率两头受压。预计2010年光纤价格下降,高压开关动特性测试仪而光纤原材料一一光棒的价格上升的概率较大,主要原因在于光纤需求量上升,而全球光棒产能满产,高压开关供应增长相对较少,预计进口光棒价格可能提升5%-10%;茌两者的作用下,行业毛利率将会回落,大致回落至08年的水平。

     中长期看,光纤光缆行业的景气度仍有支撑。主要有两大支撑因素:一是变频串联全球尤其是国内光通信行业的发展因3G、FTTx、三网融合等串联谐振因素的推动处于一个5-10年的景气期,需求旺盛;二是变频串联谐振光纤预制棒有望在明年取得行业性突破,并有望在未来五年内实现国产化,将有力推动国内光纤出口,形成新的行业增长动力。

Maxim推出用于HDMI v1.3局部放电检测仪TMDS应用的2.25Gbps自动电缆均衡器MAX3815A。MAX3815A可补偿0至35米的24AWGHDMI电缆,或0至22米的28AWGHDMI电缆,能够运行速率高达2.25Gbps的局部放电TMDS数据。器件兼容720p、1080i、1080p以及30至36位色彩(“深色”)的1080pHDTV分辨率。器件还支持VGA至WUXGA计算机分辨率。

  每个数据通道的自适应均衡器自动向电缆提供*优的所需均衡。互感器测试还提供手动均衡模式,用于特定电缆应用。驱动电缆时,TMDS输出电流可以设定为允许差分背向端接,互感器以吸收电缆连接器反射。互感器测试仪器件还可以选择工作在低功耗模式,输出摆幅切换到DVI输出规格的一半。这种互感器模式可用在短距离、芯片间直接通信中。


  电力电缆故障测试仪另一项技术同样是为未来的TB级计算处理器准备的。Intel在2006年**提出了80核处理器概念,并于2007年的IDF上进行了**展示。现在Intel表示,将对这样的“超多核”处理器引入新技术,改变其管理方法。

  通常情况下,Intel和AMD在定义多核处理器额定频率和电压,电缆故障测试仪都是以这些核心中*慢的一个为基准决定的。但随着核心的增多,接触电阻测试仪各个核心间的性能差异肯定会更加明显。如果在80核处理器中也采用这样的标准,微量水分测试无疑会大大降低整体性能。因此,Intel将在超多核处理器中引入频率电压异步功能,微量水分测定仪其中一些核心运行在高频或低电压下。计算任务到来时,处理器会将其自动分配到合适的核心上。微量水分相比之前随机分配任务的模式,这种新的智能分配方式可节能6%到35%。

  同时,Intel还将引入一种线程跳转(Threadhopping)技术,变压器容量测试仪当有更快的核心空闲时,即将工作任务转移到高速核心上,此技术可再提高能效20%到60%。*后,变压器容量面对科学计算要求**准确的需求,变压器容量参数超多核处理器内部将引入侦错、纠错机制,因为不需要再为确认电缆故障测试仪结果准确性进行多次重复计算,可提升性能40%,或提高能效21%。

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