随着大规模集成电路技术朝着超深亚微米方向发展,芯片内部机构日趋复杂,芯片的集成度已达千兆位,时钟频率也已在向千兆赫以上发展,引脚数量也在急剧上升,新的芯片封装技术如BGA、CSP等被大量采用,同时电路板的层数和布线密度也大大增加,使得外部可接触的引脚越来越少,整个电子设备的测试和维护也随之变得愈加复杂,用传统的线路检测设备(ICT)和针床测试需要付出很高的代价,有时甚至不可能解决这些问题。测试技术面临的这些挑战迫使人们去思考和探索电路可测性的理论或方法。
边界扫描协议是联合测试工作组(JTAG:Joint TEST action GROUP)提出了,并于1990 年形成了IEEE 1149.1 工业标准。该标准通过设置在器件输入输出引脚与内核电路之间的边界扫描单元对器件及外围电路进行测试,从而提高了电路板的可测性。边界扫描就像一根"虚拟探针",能够在不影响电路板正常工作的同时,采集芯片引脚的状态信息,通过分析这些信息达到故障诊断功能。
博基兴业ATE电路板测试系统通过灵活应用JTAG技术,软件自定义技术和灵活的硬件配置使用户可自定义测试步骤测试,从而可以对电路板连接性,电压、电流、电阻和功能信号进行测量和分析,满足电路板的结构和功能测试需求,从而实现复杂的电路板自动化测试,完全满足各整机设备厂家生产测试维修的强烈需求,是ATE测试设备的优选方案。
系统的主要由大规模FPGA及高速AD/DA,可编程数字电源,JTAG测试控制器,各种CPU的仿真器,及相关控制电路组成。系统的主要测试资源有: