iTEST 芯片测试仪 BK 北京博基兴业科技有限公司

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产品名称：iTEST 芯片测试仪
产品型号：BK
产品展商：其它品牌
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简单介绍

iTEST 芯片测试仪在集成电路产业发展的同时，假冒伪劣情况也形同孪生兄弟般随行入市，甚至愈演愈烈。如何控制集成电路的品质问题，已经成为整个产业链非常关注的问题。北京博基兴业科技有限公司开发的集成电路芯片测试仪通过先进的测试技术，可以测试芯片的“以次充好，以旧充新”以及芯片本身的质量好坏！

产品描述

iTEST 芯片测试仪

工业应用：

一、来料检测：IC在使用前进行品质检验，挑出**品，提高SMT的良品率。IC的品质光凭肉眼是看不出来的，必须通过加电检测，常用的方法检测IC的电流、电压、电感、电阻、电容、不能完全判断IC的好坏；通过IC检测夹具应用功能仿真程序，可以判断IC的好坏。

二、返修检测：在生产过程中主板出现问题，不好判断！有了IC检测工具，把拆下的IC放入仪器内能排除是否IC方面的原因。

三、 IC分检：返修的IC，在拆下的过程中可能损坏，用IC测试工具可以将坏的IC分检出来，可以节省很多人力，物力，从而减小各项成本。拿BGA封装的IC来说，如果IC没有分检，坏的IC贴上经过FCT测试检查出来后，把IC拆下来，要烘烤、清洗，很麻烦，还有可能损坏相关器件。用IC测试夹具检测就可以大量减少出现上述问题的几率。

测试范围

--逻辑电路类

74系列、54系列、CD系列，信号开关触发器锁存器寄存器等

--微处理器类

8位/16位/32位微控制器、汽车微控制器ARM内核32位嵌入式数字信号处理器

（DSP）

--可编程逻辑电路

FPGA、CPLD、PAL、GAL、PLD等

iTEST集成以下系统：

数字测试系统

共享资源测试系统，每个管脚有独立测试资源的测试系统。用来特性化测试集成电路的逻辑功能。

线性器件测试系统

用来测试线性集成电路的测试系统。

模拟测试系统

用来测试线性集成电路的测试系统。

存储器测试系统

DRAM 测试系统，闪存测试系统。这些类型的自动化测试设备用于验证内存芯片。

板级测试系统

板级测试是用来测试整块印制电路板PCBA，而不是针对单个集成电路。

RF测试系统

用来测试射频集成电路的测试。

SOC测试系统

通常就是一个昂贵的混合信号集成电路测试系统，用来测试超大规模集成电路(VLSI)芯片；并且这种超大规模集成电路(VLSI)芯片的集成度比传统的混合信号芯片高得多。　

综合测试项目：

1、直流输出电压
2、直流输出电流
3、峰对峰值杂讯
4、有效值杂讯
5、暂态电压
6、电压稳定度
7、电流稳定度
8、开机时序
9、上升时间
10、下降时间
11、关机时间
12、额外量测
13、浪涌电流测试
14、过冲电压
15、电源备妥信号（PG）
16、电源失效信号（PF）
17、开启电源供应器信号
18、输出上升波形
19、输出下降波形
20、效率
21、输入有效值电流

22、输入峰值电流
23、输入功率
24、输入功率因数
25、输入电压缓升/降测试
26、输入频率缓升/降测试
27、输出电压顺序
28、短路测试
29、短路电流测试
30、过电压保护
31、过载保护
32、过功率保护
33、扩充量测
34、测试中调整
35、输入断电测试
36、输入电源失真模拟
37、GPIB，RS232读/写
38、TTL信号控制
39、继电器控制
40、条码读取
41、动态测试