北京时代THI100布氏硬度测量系统 THI100
北京时代THI100布氏硬度测量系统 THI100

北京时代THI100布氏硬度测量系统由上海伊测专业代理。将CCD摄像镜头对准布氏压痕,该压痕图像被采集传输至计算平台(PC机或工控机),运用“时代THI100布氏测量软件”**定位测量压痕直径,并根据测量参数(球头直径、载荷等)直接得出对应的布氏值。咨询电话:021-5308 8897

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THI100布氏测量系统 THI100
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THI100布氏测量系统 将CCD摄像镜头对准布氏压痕,该压痕图像被采集传输至计算平台(PC机或工控机),运用“时代THI100布氏测量软件”**定位测量压痕直径,并根据测量参数(球头直径、载荷等)直接得出对应的布氏值。

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机器视觉|CCD检测系统 ckvisionV2.0
机器视觉|CCD检测系统

机器视觉图像分析检测

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GN-TR10CR,TAKEX竹中光电开关 GN-TR10CR
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GN-TR10CR,TAKEX竹中光电开关CCD图像型IMS1/2/4,IMS系列定距离背景抑制型DL/Z/S系列超声波传感器US系列

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LTS-2X26H 辉度自动测量系统  LTS-2X26H
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、点阵(MXN点),可保存测试点位置信息,以后测试同型号产品时可以快速调入◆采用CCD视频影像系统,电脑上即可观察和设置测试点,无需人眼在仪器目镜上观察

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谷物品质图像分析系统 GE-XP
谷物品质图像分析系统 GE-XP

GE-XP谷物品质图像分析系统应用图像自动分析系统测定谷物杂质和不完善粒的检测设备。适用于各类谷物的检测。该系统集计算机技术与图像处理技术于一体,通过CCD摄像机、进料机构、驱动机构和出料机构以及图像自动采集系统

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欧姆龙视觉传感器F150-S1A,F160-S2 OMRON 工业检测 CCD 传感器  欧姆龙视觉传感器F150-S1A,F160-S2 OMRON 工业检测 CCD 传感器
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ECOTTER激光位移传感器LSD-50 LSD-50
ECOTTER激光位移传感器LSD-50 LSD-50

LSD-50激光位移传感器利用几何三角原理,通过测量传感器发射的激光光束,被被测物体表面反射回来,在传感器内部的PSD(光敏位置器件)或线阵CCD上的成像位置来计算目标物距离的探测系统。LSD-50

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