随着电子信息产业的飞速发展，基础测试仪器被广泛应用在电子行业的各个领域。对基础测量仪器的巨大需求推动了测试测量行业的迅猛发展，各式产品层出不穷，
-ROptifleTM手自一体对焦系统——对焦更轻松
可选择自动对焦或手动对焦拍摄近距离目标，IR-OptifleTM测试TIM以及PWB需要用到的设备，等)。
针对LED照明行业，它配置TERALED系统，通过温度和电流函数，自动测试功率LED的热特性和光特性。T3Ster的先进技术变革了工程师处理热测试问题的方法：
1.启动测试延迟时间1微秒(市场上其他产品延迟时间为1毫秒)
2.测试周期短，以“秒、分钟”为单位(市场上其他产品以天为单位)
3.采样点高达65000个，测试可重复性好
4.高信噪比，SNR>4000,FoM=10000W/℃
5.结温测试精度：0.01℃
测试结果可用于芯片以及TIMs的热失效分析。T3Ster测得的功率封装元器件的动态热模型可导入到CFD工具中运行仿真分析，也适用于电路模拟器分析。
安捷伦N6781A数字带宽和电池寿命”。这是Palm公司CEOJonRubinstein的名言。我们每个人手中的智能手机，其强大的功能已经超越了几年前的电脑。但目前的电池技术，却远落后于手机性能的提高。因此，无论是对于手机芯片、零部件还是整机的研发，都会将耗电性能作为优先考虑的事情。**测量和评估手机及芯片的耗电特性，成为众多研发工程师迫切需要完成的工作。
手机的耗电特性非常特殊，其工作电流范围涵盖从微安级的关机漏电流，到安培级的瞬间发射电流，电流脉冲变化在微秒级，而变化频率也会达到数千赫兹。所以市场上常用的测试设备，诸如示波器、万用表、高分辨率数字化仪等，由于分辨率或测试速度的限制，无法完成这项颇具挑战的测试任务。
安捷伦公司的系统产品事业部开创一项全新技术突破了这个难关。在*新推出的N6871ASMU模块中，采用了“无缝量程切换”的独特技术，它能在给手机或芯片供电的同时，对电流实行从纳安级到安培级连续、无缝隙的高速测量，等效分辨率高达28bit、200KHz/秒采样率、512K点的存储深度，保证了对手机及芯片耗电的**捕获和分析。这就如同用一个超高分辨率的高速摄像机，跟踪拍摄飞奔的雄狮，一旦定格在任意一帧图像，即使将其放大1万倍，图像仍然毫发毕现。
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