FT-351高温四探针电阻率测试系统 FT-351
产品简介
FT-351高温四探针电阻率测试系统 一、概述: 采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具,满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求,通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。 二、适用行业: 广泛用于:生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.
产品详细信息
技术参数资料
1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□
2.电阻率范围:10-6×106cm
3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
4.电流精度:±0.1%读数
5.电阻精度:≤0.3%
6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式: 双电测量
8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W
9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)
10. *高温度: 1200℃可调节;冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C
11、升温速度:9999分钟以内自由设定,一般10分钟内即可升到900℃;功率:3kw.
12、炉膛材料:采用复合陶瓷纤维材料,具有真空成型,高温不掉粉的特征。
13.专用测试PC软件一套,USB通讯接口,软件界面同步显示、分析、保存和打印数据!
14.选购:电脑和打印机
FT-351高温四探针电阻率测试系统