高压加速试验箱 GP

一、产品简介：

高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。

二、技术参数：

三、结构特点：

1.采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度。

2.采用指针显示正负压表；时间控制器采LED显示器；自动水位控制器,水位不足时提供警示。

3.圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业**容器标准,可防止试验中结露滴水设计.。

4.圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。

5.精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续200h。

6.自动门禁,圆型门自动温度与压力检知**门禁锁定控制,**门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。

7.内压力愈大时,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统及压式完全不同,可延长packing寿命。

8.具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。

9.**阀，当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。

10.LED数字型温度控制器可作试验温度之设定、控制及显示。

11.LED数字计时器,当锅内温度到後才开始计时以确保试验完全

12.精准的压力／温度表随时显示锅内压力与相对温度。

13.运转时流水器自动排出未饱和蒸气以到佳蒸气品质。

14.一体成型矽胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。

15.PCT属于饱和型，湿度默认100%，且温度，湿度，压力同时上升或下降，用于测试IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料等产品的密封性能和老化性能。

16.属于非饱和型，温度，湿度(70%~100%)，压力可调，可做高温高湿，高低温循环，双85，双95，高温高湿高压等测试，也叫做型老化测试设备，也是用于测试IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料等产品的密封性能和老化性能。