GUT-6000B数字IC测试仪 固纬集成电路测试仪GUT6000B GUT-6000B
产品简介
GUT-6000B数字IC测试仪 固纬集成电路测试仪GUT6000B 特点 循环测试 自动搜寻 自我诊断 过载保护 测量1800种设备 支持54/74系列TTL 支持4000和5000系列CMOS 测试管脚：28 pin
产品详细信息
GUT-6000B数字IC测试仪 固纬集成电路测试仪GUT6000B
GUT-6000B数字IC测试仪 固纬集成电路测试仪GUT6000B特点
循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
测量1800种设备
支持54/74系列TTL
支持4000和5000系列CMOS
测试管脚：28 pin
GUT-6000B数字IC测试仪 固纬集成电路测试仪GUT6000B产品规格
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测试范围 |
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54/74 系列 TTL |
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4000 及 4500 系列 CMOS |
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DRIVE |
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量测种类 |
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约 1800 种 |
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测试电压 |
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2.5/3.0/3.3/5V DC |
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测试时间 |
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高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC |
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使用电源 |
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交流 100V~240V +10%, 50/60Hz |
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尺寸及重量 |
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335(宽) x 105(高) x 300(长) mm |
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GUT-6000B数字IC测试仪 固纬集成电路测试仪GUT6000B
配件
GUT-6000B 数字IC测试仪
使用手册x1， 电源线x1
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