粗糙度仪测量平台 TA610/620/630
产品简介
粗糙度仪测量平台 TA610测量平台,齿条升降,立柱可以随意转动,用来测量不容易放置的工件,可提高测量精度。 TA620测量平台,丝杆升降,平台上设置V型槽,用来测量形状较小的工件,可提高测量平台。 TA630微调平台,X—Y平面转角,俯仰角。 TA631微调平台,X—Y平面转角。 TA630、631都用来较小幅度的,粗确调整被测量工件的位置,提高测量精度。
产品详细信息
粗糙度仪测量平台详细内容
TA610粗糙度仪测量平台,齿条升降,立柱可以随意转动,用来测量不容易放置的工件,可提高测量精度。
TA620粗糙度仪测量平台,丝杆升降,平台上设置V型槽,用来测量形状较小的工件,可提高测量平台。
TA630微调平台,X—Y平面转角,俯仰角。
TA631微调平台,X—Y平面转角。
TA630、631都用来较小幅度的,粗确调整被测量工件的位置,提高测量精度。
TA610粗糙度仪测量平台,齿条升降,立柱可以随意转动,用来测量不容易放置的工件,可提高测量精度。
TA620粗糙度仪测量平台,丝杆升降,平台上设置V型槽,用来测量形状较小的工件,可提高测量平台。
TA630微调平台,X—Y平面转角,俯仰角。
TA631微调平台,X—Y平面转角。
TA630、631都用来较小幅度的,粗确调整被测量工件的位置,提高测量精度。