TesTex测量带 X Coarse Tape

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产品型号：X Coarse Tape

品牌：其它品牌

公司名称：北京仪器信息网

所在地：北京东城

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产品简介

TesTex测量带对所测的粗糙度可**保存* 费用低,使用简单,快捷* TesTex测量带分厚型和加厚型* 每卷可做50个测试* 符合ASTM D 4417方法C和NACE RP0287-95测试方法

TesTex测量带

* 对所测的粗糙度可**保存
* 费用低,使用简单,快捷
* 厚型和加厚型
* 每卷可做50个测试
* 符合ASTM D 4417方法C和NACE RP0287-95测试方法

PCWI表面轮廓量规

是用于测量各种塑料箔、细杆外径、垫片厚度的显微仪器，与TESTEX拓片纸配合测出表面粗糙度轮廓的峰—峰值。用以测定和控制喷丸施工的工艺质量，确保在*经济合理的条件下获取*好的涂料附着力。

测量范围：0～1000μm
分辨率:0.001mm
精度：±1μm
符合ASTM D4417方法C和
NACERP0287-95测试方法

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