HIOKI3506 电容测试仪 HIOKI3505|HIOKI3506
产品简介
HIOKI3506 电容测试仪 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 反复测量精度更高,*适合生产线 校正维修功能,减低由环境的温度变化影响 测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能 比测仪的设定值和测定值的同步显示 2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量 根据BIN的测定区分容量 比测仪和触发器同步输出功能
产品详细信息
HIOKI3506 电容测试仪
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
反复测量精度更高,*适合生产线
校正维修功能,减低由环境的温度变化影响
测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能
比测仪的设定值和测定值的同步显示
2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量
根据BIN的测定区分容量
比测仪和触发器同步输出功能
输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
反复测量精度更高,*适合生产线
校正维修功能,减低由环境的温度变化影响
测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能
比测仪的设定值和测定值的同步显示
2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量
根据BIN的测定区分容量
比测仪和触发器同步输出功能
输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
测量参数 | C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) |
测量范围 | C:0.00000pF ~ 15.0000mF D: 0.00001 ~ 1.99999 Q:0.0 ~ 19999.9 |
基本确度 | (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 ※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数 |
测量频率 | 3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz |
测量信号电平 | 500mV, 1V rms |
输出电阻 | 1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外) |
显示 | LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
测量时间 | 代表值: 2.0 ms ( FAST) ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
机能 | BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口 |
电源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, *大40VA |
体积及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
附件 | 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1 |