智能化介质损耗测试仪 RXJS

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产品型号:RXJS
 牌:日行
公司名称:上海日行电气有限公司
  地:上海虹口
发布时间:2009-10-29
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产品简介

 RX--IV型系列智能化介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示。

产品详细信息

智能化介质损耗测试仪介绍
智能化介质损耗测试仪
一、概说
 RX--IV型系列智能化介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印,使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强等优点。RX--IV体积小、重量轻,是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。
二、智能化介质损耗测试仪技术指标
 1、环境温度:0~40℃(液晶屏应避免长时日照)
 2、相对湿度:30%~70%
 3、供电电源:电压:220V±10%,频率50±1Hz
 4、外形尺寸:长×宽×高=4900mm×300mm×390mm
 5、重量:约18kg
 6、输出功率:1KVA
 7、显示分辨率:4位
 8、测量范围:
 介质损耗(tgδ):0-50%
智能化介质损耗测试仪 电容容量(Cx)和加载电压:
 2.5KV档:≤300nF(300000pF)
 3KV档:≤200nF(200000pF)
 5KV档:≤ 76nF( 76000pF)
 7.5KV档:≤ 34nF( 34000pF)
 10 KV档:≤ 20nF( 20000pF)
 9、基本测量误差:
    介质损耗(tgδ):1%±0.07%(加载电流20μA~500mA)正接
 介质损耗(tgδ):2%±0.09%(加载电流 5μA~ 20mA)反接
 电容容量( Cx ):1.5%±1.5pF
智能化介质损耗测试仪、结构
 仪器为升压与测量一体化结构,输出电压2.5KV~10KV五档可调,以适应各种需要,在测量对无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似,但比其方便。
图一为仪器操作面板图,图二为仪器接线端面图。
 (1) 显示窗———————液晶显示屏。
 (2) 试验电压选择开关——当开关置于“关”时,仪器无高压输出。
 (3) 操作键盘——————选择测量方式、起动、停止、打印等操作。
 (4) 电源插座——————保险丝用5A。
 (5) 电源开关——————电源通断。
 (6) 起动灯———————指示高压输出。
 (7) 打印机———————打印测试结果。
★★★★ (8) 接地端子——————使用前,必须将该端子可靠地接地!!!
 ★ (9) 测量电流输入端IX——有两个出线头,中心头(红色,有CX标记)应与被试品一端相连。IN必须小于100mA!!!
 (10)标准电流输入端IN——仅当外接标准电容器进行测量时才用,该端应与外接标准电容器一端相连。IN必须小于100mA!!!
 (11)测量高压输出端UH——只有一个大铁夹出线头(有UH标记),与被试品一端相接。
四、工作原理
 仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路,如图三所示。
 标准回路由内置高稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并由之算出被测试品的电容容值(Cx)和其介质损耗(tg)。
 数据采集电路全部采用高稳定度器件,采集板和采集计算机被铁盒完全浮空屏蔽,仪器的外壳接地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,故测量结果稳定、**、可靠。
 由图三可见,仪器高压变压器的高压侧和测量线路都是浮地的,用户可根据不同的测量对象和测量需要,灵活地采用多种接线方式。如采用“正接线法”进行测量时,可将“E”点接地;而当采用“反接线法”进行测量时,可将“UH”点接地,而将E点浮空。
 图中除测试品Cx外,其余为本仪器。细线框内部分对仪器外壳能承受15KV工频高压5分钟,额定耐压10KV。仪器内附标准电容CN,名义值为50PF,tgδ≤0.0001,耐压10KV。高压变压器,额定输出功率为1KVA。
 ★“E”点为仪器的内屏蔽与测量电缆的屏蔽层相连,不是大地,与仪器的外壳也不连通!!!
 
 智能化介质损耗测试仪

五、使用方法
 ★★★**操作注意事项
 1、使用时必须将仪器的接地端子可靠的接地。
 2、只有关闭仪器电源,试验电压选择开关置于“关”位置时,接触仪器的后部及其测量线缆与被试品才被认为是**的。
 3、仪器在测量时,严禁操作“试验电压”选择开关。
 4、★正接线法UH端为高电压,反接线法IX端为高电压,使用时必须根据实际情况,将带高压的线缆与地保持足够的距离。
 5、不得更换不符合面板指示值的保险丝管,内部一只保险丝为0.5A
 6、使用时尽可能用厂家随仪器提供的线缆以确保测量准确度。
 7、智能化介质损耗测试仪操作键盘
 备用————不用。
 快测————快速测量,无抗干扰功能。
 抗扰————抗干扰测量。
 正接————正接法测量。
 打印————在测试结果出来后,打印测试数据。
 反接————反接法测量。
 起动————起动高压,开始测量。
 外接————外接法测量。也用来选择外接标准电容的容量。
 停止————可以在测试过程中,中断测量。
智能化介质损耗测试仪 测试前先用“试验电压”开关选好输出电压,然后用“操作键盘”选择好测试方式。智能化介质损耗测试仪仪器首先自检(显示屏、光电通讯、内存、操作键、数模转换、电网频率. . . ),自检通过后,进入主目录。这时按屏幕提示即可完成测试。
 进入测量状态后,用户随时可用“停止”键退出测量状态。
 做正、反接测量时无须人工干预。
 ★做外接方式测量时,中途会显示“请关闭接高压!”并停一下,等候人工将外加高压关闭,关闭外高压后,(必须关闭外加高压),再接一次“起动”,键才能完成测试。
 ★如果外高压未关闭,则测试结果不真实!
 ★★★外接标准电容的容量选择:
 “外接方式”时,每按一次“外接”键,则显示的外接标准电容容量“XXXXpE”将改变,共八种容量供选择(★*后一种为厂家调试用,用户使用则无效。):
 50pF,100pF,150pF,200pF,500pF,1000pF,XXXpF,XXXpF。
 应选择与外接标准电容相等的容量。如果使用的外接电容容量特殊,可请生产厂家将该电容容量输入仪器中。如果选择的外接标准电容与实际不相等,则测量结果会受影响。
 
 正接线法:(接线如图四所示)
 通电前,先将“试验电压”开关置于“关”位置。将UH端子用专用线缆的大铁夹(有UH标记),接至被试品的高压端,将IX端子用另一根专用线缆的芯线线头(红色, 有CX标记)接被试品CX低压端,它的屏蔽线头(黑色, 有E标记)接地,如果试品低压端有屏蔽端子,可用导线将该端子与“E”连接后接地。
 通电后,按“正接”键。选好正接线方式;用“试验电压”开关选好电压;然后按“起动”键开始测试。
 
 反接线法:(接线如图五所示)
 通电前,先将“试验电压”开关置于“关”位置,将UH端子接地,将IX的芯线(有CX标记)接至被试品CX的**。
 通电后,按“反接”键,选好反接线方式;用“试验电压”开关选好电压;然后按“起动”键开始测试。
 ★★★特别注意:屏蔽“E”与IX电位接近,可接至被试品高压的屏蔽或者悬空,**不能接地!!!。
 智能化介质损耗测试仪
 外接高压法:(接线如图六所示)
 CB为外接标准电容,CX为被试品。
 当被试品要求度验电压大于10KV时,可以外接高压进行测量,即不使用仪器内部高压变压器,而外接一台高压装置进行测量。
 ★★★注意:外接高压法进行测量时,“试验电压”开关必须置于“关”位置!!!
 ★★★外接高压法时,应外接标准电容器CB,不许使用仪器内标准电容器!!!
 通电后,多次按“外接”键,选好外接线方式以及外接的标准电容容量,必须再将“试验电压”开关置于“关”位置!调整好外接电压,然后按“起动”键开始测试。
 RX--IV型为中文液晶显示,有中文汉字提示各类测试信息。当测试完成后,可按“打印”键,打印测试结果。
六、保管免费及免费修理期限
 仪器应在原厂包装条件下,于室内贮存,其环境温度为0—40℃相对温度为30%—70%,且在空气中不应含有足以引起腐蚀的有害物质。仪器从冷环境突然到热环境中时,可能结露,应等结露消失后再使用。每年应打开仪器,消除由于野外作业产生的灰尘,特别是内部标准电容处的灰尘。
 仪器和附件自制造厂发货日期起12个月内,当用户在完全遵守制造厂使用说明书所规定的保管的使用条件下,发现产品制造质量**或不能正常工作时,制造厂负责给予修理或更换。
智能化介质损耗测试仪、仪器成套性
 (1)介质损耗测试仪             1台
 (2)专用测试线缆               2根
 (3)保险丝(5A)               4只
 (4)电源线                     1根
 (5)使用说明书                 1份
 (6)产品合格证                 1份
附录:抗干扰探讨
(一)、干扰
 以电容试品为例,当工频电压加在电容上时,其上流过两个电流(科A):容性电流Ic和阻性电流Ir,合成为试品电流Ix。Ic和Ir形成的夹角δ即为介质损耗角。当干扰电流Ig流入试品时,与Ix合成为Igx,Ix与Igx之间的夹角β是由干扰电流Ig形成的。测量到的电流Igx与Uc的夹角是β+δ与阶损角δ相差很大。
(二)、智能化介质损耗测试仪方法
 目前,智能介质损耗仪通常采用的抗干扰方法主要有种:
 (1)、移相法
 方法是将加到试品上的测试电压Ur移相,使Uc与Ig同相位(Ur与Uc恒定相差90度),从图B中可见,测量到的电流Igx与有效的Ix相差不大(当干扰电流较小时),如果能再反Ig方向将Uc移相一次,两次数据合成即能准确地找到阶损角δ(即使干扰电流较大)。
 (2)、变频法
 现场测量时通常使用工频电源,而现场干扰主要也是工频,同频率的电源相互叠加形成干扰,去除无用的干扰而保留有用测试电流是非常困难的。用非工频电源进行测量,则工频电源的干扰电流与测试电流由于频率不同,是很容易区分开的。比如,将所含有干扰混合信号的前10mS,与后10mS信号相加,就去除了工频干扰,而测量信号不是50Hz所以得以保留。
 (3)、波形分析法
 计算机的运用,使大量的工程分析计算变得方便,通过对现场干扰的大量采集分析,结合测量到的波形,运用高等数学理论,巧妙地去除干扰,也同样达到目的。甚至去除一、三、五次谐波也很方便。
 (三)、要求
 工程测量介质损耗,通常要求能分辨出0.1%介损值是不过分的。
 介质损耗:tg(δ)=0.1%=0.001
 损耗角度:δ=0.0570
 对应时间:T=δ/3600×20mS=3.183μS
 (四)、智能化介质损耗测试仪比较
 干扰信号是由干扰源通过媒介放加到试品上,即使干扰源是恒定的,但传输媒介是空气及其它绝缘体不是恒定介质(图C、图D),所以干扰电源Ig方向随机变化的程度≥0.0570不足为奇。要使测试电源随时跟踪Ig,而跟踪角度误差≤0.0570绝非易事。所以*终抗干扰虽然有效,但是测量精度不容易提高。
 运行的设备(试品)在工频下运行,要求知道在工频条件下的介质损耗。
 理论上:介质损耗=2πfRC,(f=50Hz)
 所以用非工频的f’电源加在试品上所测得的介质损耗=2πf’RC,再由这一结果推算出2πfRC易如反掌。
 然而运行设备的等效R,不是理想的电阻,其中更多的是有极分子,其等效R随频率f的变化而变化,所以尽管理论上介质损耗与频率成正比,而实际介质损耗(2πfRC)不与频率成正比。这给根据变频2πf’RC推算工频2πfRC造成了麻烦。
智能化介质损耗测试仪 为了减小这个非线性误差,f’采用接近工频的频率,但过分接近等于没有变频,这就是主要矛盾。好在大多数试品对频率的敏感没有那么强烈。所以变频法抗开扰是比较成功的。
 产生一个有一定的功率,且又是正弦波的异频电源有较大的难度。因为异频电源波形的失真度对相角的影响很大,或者与实际工频正弦波电源情况下所造成的介质损耗有误差。
 为了去除接近f’工频干扰,变频法不得不处理大量的数据,所以相对测量时间较长。
 (五)、RX--IV处理干扰的方法
 测试电源采用工频,使测量与实际一样。交错分时测量干扰信号和综合信号,将所有测到的信号都**也锁定在与测试电源同步的0相位上,再将干扰信号倒相与综合信号叠加得到有效信号。
智能化介质损耗测试仪 在数字处理上,广泛地采用数字与电子技术,剔除了相角相差1%的信号,剔除了数值较大的几组信号,也剔除了数值较小的几组信号,再将许多组中值信号求平均值得出结果,而每组信号都是由许多测量信号与处理后的干扰信号构成的。在调试中所有数据都以6位有效数字计算。为了提高测量速度,采用双计算机和高速并行A/D转换器处理信息,软件全部用汇编完成。
 对于强干扰信号较**地测出其大小不难,仪器特别设计的高精度相位锁定器能将其准确地定相,智能化介质损耗测试仪为完全消除干扰提供了便利;对于弱干扰信号粗略地测出其大小也是可以的,而相位锁定器并不受测量信号的大小影响,仍然准确定相,弱干扰本来对测量信号的影响就小,再粗略地去除其大部分,也可以认为去除了干扰。
 对于突发性干扰信号,仪器尽可能地将采样的干扰数据废除,或宣布测试失败,以保证数据结果的可靠性。
 实验数据:用工频500V电压回载50pF电容,测量信号电流约8μA,无干扰时,快速测量测得介损为0.08%,抗干扰测量测得介损为0.08%;用20000V工频做干扰,距离被试品10厘米,快速测量测得介损为12.23%,抗干扰测量测得介损为0.09%。

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