SEMI F47电压下降测试程序上海超玛进出口有限公司

简单介绍

SEMI F47电压下降测试程序

产品描述

SEMI F47电压下降测试程序　

符合SEMI F47（Voltage Sag immunity）标准

是一种为了进行SEMI F47标准的半导体处理装置电压下降防护测试＊1而设计的程序（一种应用软件）。
通过GPIB接口，能在本公司的电源系统＊2中自动设定测试条件，并能将测试结果用文件方式保存起来。

＊1	在半导体工厂里，由于设备故障或大的负荷变动，交流电源供电电压会突然下降（从半个周期到数秒钟）。本软件对这种状态进行仿真，测试和评估产生这种情况时被测试装置的耐受性能。
＊2	ES系列或4400/8400系列

三相下降波形

测试内容

可进行如下两种类型的测试

●SEMI标准测试	可进行用SEMI F47标准所规定的测试条件下的电源下降防护特性测试。
●用户测试	可进行用户自己设定的测试条件下的电源降压防护特性测试

动作环境

电源系统	ES系列（本公司仿真电源） 4400/8400系列（本公司系统交流电源，不低于Ver.2.3）上述任意一种
个人计算机	PC/AT兼容机 ·内存不小于32MB ·硬盘剩余空间不小于50MB ·显示器 1024×768（像素）、可256色显示
操作系统	Windows98/SE/Me/2000/XP（Microsoft公司产品）
GPIB接口	PCI-GPIB板、PCMCIA-GPIB板、USB-GPIB （上述均为美国National Instruments公司产品）

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