• 透明法和 X 射线摄影• 电离和剂量学• X 射线随不同物质和厚度的衰减• 研究 X 射线源的连续和特征谱线• 特征谱线和它们的精细结构• 原子的精细结构和壳层模型• 与能量有关的吸收和 K 连缘• Moseley （莫塞莱）定律和测定 Rydberg （里德堡）频率• Comptom （康普顿）效应• Duane-Hunt 关系从极限波长测定 Planck ( 普朗克常数 )• 用于测定个中晶体晶面间隔的 Bragg( 布拉格 ) 反射• 通过 Laue ( 劳厄 ) 相和 Debye-Scherrer ( 德拜－施拉 ) 摄像术研究晶体结构• 在多晶金属箔和粉末样品上进行 X 射线衍射，分析晶体结构• 利用 X 射线进行材料分析