名称:高精度数字式探规 型号:NT12, NT30 品牌:JENA 原产地:Germany 产品简介 应用： 直线度检测 平面度检测 几何公差测量 硅晶片的厚度测量 量块校准 直线导轨的误差测量 计量和生产控制 量块校准和测量设备的检查 多点检测设备 位置测量 产品规格 规 格：NT 12; NT 30 测量范围：12 mm; 30 mm 分 辨 率：0.05µm; 0.1µm; 0.2µm; 0.5µm; 1.0µm 移动速度：Max: 72m/min 参考点位置：上极限以下 5 ± 0.5mm 处 精度等级：±1 µm 测杆驱动方式：手 动 / 气 动 防护等级：IP 64 输出信号：1Vpp/11µApp/RS 422 电源电压：DC 5V±10% 线 长： 标准: 1.5m (Max: 30m ) 产品优点 全行程测量精度高— ± 1 µm 重现性高— 0.05 µm 专为工业环境设计—防护等级IP64 结构紧凑，安装方便快捷 多种结构配置可供选择 坚固的设计—高的机械和热稳定性 为多点式测量设备特别设计 简化检测装置的构造 无需反复校准，测量长期稳定 球型探头可承受较大的径向力且摩擦力很小 主要市场 半导体设备，各种需要高精度、小行程的检测设备