半导体图示仪/晶体管图示仪 - 上海伊测电子科技有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	XJ27104型VMOS管特性测试装置 XJ27104	XJ27104型VMOS管特性测试装置，本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能对国内、外不同类型VMOS管的静态参数进行测试，显示其特性曲线，并可测出其阈门电压。
	XJ27103型三端集成稳压器特性测试装置 XJ27103	XJ27103型三端集成稳压器特性测试装置，。本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能测试“78、79系列”三端集成稳压的静态输入特性曲线及负载特性曲线。
	XJ27102 / XJ27102A 型高压测试装置 XJ27102	XJ27102 / XJ27102A 型高压测试装置，。 XJ27102型3KV/XJ27102A型5KV测试装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能测试3KV或5KV以内的半导体器件的反向电压。
	XJ27101型数字集成电路电压传输特性测试装置 XJ27101	XJ27101型数字集成电路电压传输特性测试装置。本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能测试CMOS、TTL数字集成电路电压传输特性，不仅可判别被测器件功能是否正常，还可测出其开门电压、关门电压的重要参数。
	QT2半导体管特性图示仪 QT2	QT2半导体管特性图示仪可测量二极管、三极管的低频直流参数，*大集电极电流超过50A，能满足500VA以下器件的测试。本机附有高压测装置，可对5KV以下的二极管、三极管进行击穿电压及反向漏电脑测试。
	XJ4810/XJ4810A半导体管特性图示仪 XJ4810/XJ4810A	XJ4810/XJ4810A半导体管特性图示仪,采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。
	XJ4822/B半导体管特性图示仪 XJ4822/B	XJ4822/B半导体管特性图示仪，XJ4822 CRT读出图示仪，外观新颖，技术先进，操作方便，能对各类二极管、三极管、场效应管等静态参数测试。光标测量数字读出给用户带来方便，二簇曲线显示对器件各类参数配对尤为方便。测试大功率器件时，可采用单次方式。配3KV测试台后Vc可达3KV。
	XJ4829图示仪 XJ4829	XJ4829图示仪,本机是新一代数字化测量仪器。采用新颖电路设计技术，通过微处理器集中控制整个系统的数据采集、显示、打印、存储，处理人机交互信息等。具有高集成度、高可靠性。以屏幕显示测试档级及用光标测试被测器件的各种直流参数，并可将测试结果存储、打印、随时调用。
	XJ4828精密模拟器件综合测试仪 XJ4828	XJ4828精密模拟器件综合测试仪，采用彩色LCD显示，具有数字存储功能，能满足对半导体管特性、三端稳压集成电路进行图示、参数测量，能对模拟器件进行分析、参数挑选、配对等，半导体管测试单元能满足对二极管、三极管、场效应管、VMOS等器件的直流参数的特性测试。能对模拟运算放大器、比较器常用指标进行综合测试，直观地显示其*大不失真输出幅度。带计算机接口(USB)
	XJ4830半导体管特性图示仪 XJ4830	XJ4830半导体管特性图示仪,是新一代数字化测量仪器。采用新颖电路设计技术，通过微处理器集中控制整个系统的数据采集、显示、打印、存储，处理人机交互信息等。具有高集成度、高可靠性。以屏幕显示测试档级及用光标测试被测器件的各种直流参数，并可将测试结果存储、打印、随时调用。本机具有友好的人机界面，有中、英文两种语言供选择。
	XJ4832半导体管特性图示仪 XJ4832	XJ4832半导体管特性图示仪本机是新一代数字化测量仪器。采用新颖电路设计技术，通过微处理器集中控制整个系统的数据采集、显示、打印、存储，处理人机交互信息等。具有高集成度、高可靠性。以屏幕显示测试档级及用光标测试被测器件的各种直流参数，并可将测试结果存储、打印、随时调用。本机具有友好的人机界面，有中、英文两种语言供选择。
	XJ4834/4833半导体管图示仪 XJ4834/4833	XJ4834/4833半导体管图示仪,是新一代数字化测量仪器，具有*400A/200A的集电极电流和1000V的集电极扫描电压输出。采用大电流脉冲、采样、存储等技术，满足对大功率半导体管特性进行图示、参数测量。能对大功率半导体管特性进行分析、参数挑选、配对等，并具有计算机接口、可打印输出, 并可将测试结果存储、调用、打印。
	XJ3110线性集成电路测量仪 XJ3110	XJ3110线性集成电路测量仪，XJ3110可对单运放、双运放、四运放的8种主要参数进行手动或自动测量，所有参数均以数字显示，*大输出幅度可用波形显示器监视。
	杭州伏达UI9730磁性材料动态分析系统 UI9730	杭州伏达UI9730磁性材料动态分析系统,测量参数(*值)：次级感应电压、激励电流、激励电流频率、矫顽力、剩磁、大磁通密度、*大磁场强度Br /Bm、振幅磁导率、磁芯损耗、B-H磁滞回线、激励电流波形、感应电压波形,高频电源输出能力：电压：1～300V，电流：0.05~5A，功率：300VA，频率范围：10~300kHz,基本精度：2%
	杭州伏达UI9600A 三极管多功能筛选仪 UI9600A	杭州伏达UI9600A 三极管多功能筛选仪 UI9600A 三极管多功能筛选仪，电子镇流器、节能灯生产厂家大多用图示仪以晶体管进行测试，但图示仪读数不直观，没有自动报警功能，操作极其不便，不适合生产线大批检测使用。特别是漏电流及耐压测试非常麻烦，多数企业只能抽查，无法全检。而且图示仪无法测试晶体管开关时间，用其控制质量就显得不够**。针对这种情况，本所结合电子镇流器的特殊要求，
	UI9600晶体管热敏参数筛选仪 UI9600	UI9600晶体管热敏参数筛选仪，热敏参数是晶体管VBE，β，ICEO等在常温和高温下的变化量，受到越来越多的镇流器生产厂家重视。因为镇流器内部温度很高，高温下晶体管的VBE，β，ICEO等参数会发生变化，如果变化量过大，将严重降低产品可靠性。
	ZC4822晶体管特征性图示仪 ZC4822	ZC4822晶体管特征性图示仪，显示晶体管器件特性曲线，并可测量静态参数,具备交替测量显示功能，可同时显示二极管正、反相特性体积小，操作简便，可靠性高高集电子扫描电压为500V，大电流2A，基本满足了一般晶体管的测试要求特别适用于学校实验室，家电维修部门对晶体管作一般性测量.
	中策ZC4822晶体管图示仪 ZC4822	中策ZC4822晶体管图示仪具备交替测量显示功能，可同时显示二极管正、反相特性, 体积小，操作简便，可靠性高, 特别适用于学校实验室，家电维修部门对晶体管作一般性测量.
	QT2晶体管特性图示仪 QT2	QT2晶体管特性图示仪由上海伊测电子专业代理，QT2可测量二极管、三极管的低频直流参数，*大集电极电流超过50A，能满足500VA以下器件的测试。
	WQ4832晶体管特性图示仪 WQ4832	WQ4832晶体管特性图示仪由上海伊测电子专业代理，本仪器具有双簇曲线显示，双向集电极扫描功能，可以对被测半导体器件的特性进行对比分析，便于晶体管的配对. 采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线等性能。

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