日本KETT膜厚计 LZ-200J 上海弘芯电子科技有限公司

日本KETT膜厚计/涂层测厚仪 LZ-200J

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产品名称：日本KETT膜厚计/涂层测厚仪 LZ-200J
产品型号：LZ-200J
产品展商：其它品牌
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简单介绍

日本KETT膜厚计/涂层测厚仪 LZ-200J采用了磁性和涡流两种测厚方法。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪内置打印机，可打印数据，有四个统计功能

产品描述

日本KETT膜厚计/涂层测厚仪 LZ-200J的特点：
日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。

日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪的技术参数：

测定方法	电磁式及高频涡流式
测定对象	磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层
测定范围	电磁式：0～1500um或0～60.0mils
测定范围	高频式：0～800um或0～32.0mils
测定精度	电磁式：<15um±0.3um >15um±2%
测定精度	高频式：<50um±1um >50um±2%
分辨率	<100um 0.1um >100um 1um
界限设定	可设定上/下限数值

测试单位	公/英制互换
显示方式	LCD数显
操作面板	密封防水按键
附属品	铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
电源	DV3V 主机5#碱性电池×6个打印机5#碱性电池×4个
体积	80(W)×80(D)×30(H)
重量	1100g

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