C测试仪 3504 上海弘芯电子科技有限公司

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产品名称：C测试仪
产品型号：3504/ 3504-10
产品展商：其它品牌
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简单介绍

C测试仪 3504/ 3504-10封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 *多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (**于3504) 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms。可选定测量电压触发同步测量

产品描述

C测试仪 3504/ 3504-10
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
*多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (**于3504)
能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms。
可选定测量电压
触发同步测量

基本参数：

测量参数	Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tan）
测量范围	C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000
基本確度	（代表値）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各係数
测量频率	120Hz, 1kHz
测量信号电平	恒定电压模式: 500 mV, 1 V 测量范围: CV1V: ～ 70 μF 量程（测量频率1kHz） CV1V: ～ 700 μF 量程（测量频率120Hz） CV500 mV: ～ 170 μF 量程（测量频率1kHz） CV500 mV: ～ 1.45mF 量程（测量频率120Hz）信号电平精度 ±10% ± 5 mV
输出电阻	5Ω（CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外）
显示	发光二级管
测量时间	典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
機能	BIN 分选测量功能（于3504）, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能, EXT I/O输入/输出, RS-232C接口（标准）, GP-IBイ接口（于3504）
电源	AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, *大110VA
体积及重量	260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件	电源线× 1, 电源备用保险丝× 1

(不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)
相位同期功能(特殊式样)
同时使用多台3504时,可实现测试信号的相位同期。相似的试料测试时所发生的不稳定情况减少,测试状况稳定。根据需求,相位同期功能还可以对应特殊式样。

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