涂层测厚仪探头F400探头
TT260涂层测厚仪选配F400探头，主要用于较薄厚度的涂层测量，涂层测厚仪探头可获得测量结果和更高的重复性，另外涂层测厚仪探头在管材基体直径较小或者被测区域接触面积较小时，F400探头也是的选择。
TT260涂层测厚仪测头型号
F400
涂层测厚仪探头工作原理
磁感应
涂层测厚仪探头测量范围（um）
0-400
涂层测厚仪探头低限分辨力(um)
0.1
示值误差
一点校准(um)
±[3%H+1]
两点校准(um)
±[(1～3)%H+0.7]
测量条件
*小曲率半径(mm)
凸 1
基体*小面积的直径(mm)
ф3
*小临界厚度(mm)
0.2
涂层测厚仪探头探头尺寸（mm)
ф12X55